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在線粒度儀作為一種粒度分析工具,能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)和優(yōu)化顆粒尺寸分布,廣泛應(yīng)用于各個(gè)工業(yè)領(lǐng)域。它的高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性使得粒度分析變得更準(zhǔn)確和可靠。它通過光學(xué)或聲學(xué)原理,將物料中的顆粒進(jìn)行非接觸式檢測(cè),并根據(jù)檢測(cè)結(jié)果生成粒度分布曲線。通常具有高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性的特點(diǎn),可以...
Empyrean銳影X射線衍射系統(tǒng)是荷蘭帕納科公司繼X’Pert專家系統(tǒng)后,十年一劍,推出的全新X射線衍射儀,可滿足當(dāng)前4大類X-射線分析要求的平臺(tái),即衍射、散射、反射和CT影像X射線分析平臺(tái),樣品可以是粉末,薄膜,納米材料,塊狀材料。它擁有新開發(fā)的X光管,的測(cè)角儀、*的新樣品臺(tái)和嚴(yán)格的輻射安全防護(hù)。衍射平臺(tái)上的三維探測(cè)系統(tǒng),PIXcel3D探測(cè)器將使用于這一多功能的X-射線衍射系統(tǒng)上,將面探測(cè)技術(shù)與CT技術(shù)平民化。使用EmpyreanX射線衍射和混合像素探測(cè)器PIXcel3...
EmpyreanNano版多功能X射線散射平臺(tái)是一種混合實(shí)驗(yàn)室X射線散射儀。這款*的設(shè)備支持多種技術(shù),以多種長(zhǎng)度比例進(jìn)行(納米)材料的結(jié)構(gòu)鑒定。與市場(chǎng)上的其它實(shí)驗(yàn)室儀器不同,EmpyreanNano版涵蓋了從sub-?ngstr?ms到微米級(jí)的布拉格間距,以及跨越幾乎50年的散射矢量q范圍——沒有任何間隙。主要應(yīng)用:1、SAXS(小角X射線散射)SAXS是分析各種樣品類型(液體、粉末、固體、凝膠...)的納米級(jí)結(jié)構(gòu)和尺寸的通用工具之一。樣品可以是無定形、結(jié)晶或半結(jié)晶。通過SA...
X射線熒光(XRF)光譜測(cè)定是一種無損式分析技術(shù),可用于獲取不同類型材料的元素信息。它已在許多行業(yè)和應(yīng)用領(lǐng)域中得到廣泛運(yùn)用,包括:水泥生產(chǎn)、玻璃生產(chǎn)、采礦、選礦、鋼鐵及有色金屬、石油和石化、聚合物及相關(guān)行業(yè)、制藥、保健產(chǎn)品和環(huán)保。光譜儀系統(tǒng)通常分為兩大類:波長(zhǎng)色散式系統(tǒng)(WDXRF)和能量色散式系統(tǒng)(EDXRF)。兩者之間的區(qū)別在于檢測(cè)系統(tǒng)。在波長(zhǎng)色散式光譜儀中,X射線光管用作直接照射樣品的光源,并且使用波長(zhǎng)色散式檢測(cè)系統(tǒng)來測(cè)量樣品發(fā)出的熒光。分光晶體根據(jù)波長(zhǎng)(而不是能量)來...
Zeta電位儀可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位),也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性,也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過程的機(jī)理。通過測(cè)定粉體的Zeta電位,從pH-Zeta電位關(guān)系圖上求出等電點(diǎn),是認(rèn)識(shí)粉體表面電性的重要方法,在粉體表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類型儀器相比,它具有顯著的*性??蓮V泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè),也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一。Zeta電位儀的特點(diǎn)...
2016年11月,X射線分析儀器和軟件供應(yīng)商帕納科宣布推出全新的Aeris臺(tái)式X射線粉末衍射儀(XRD)。這款新系統(tǒng)的主要優(yōu)點(diǎn)是易于使用并可為客戶帶來諸多好處,能夠快速、地提供被測(cè)材料的物相信息。Aeris,重新定義臺(tái)式X射線衍射儀:(1)Aeris內(nèi)置的觸摸屏界面直觀,可直接顯示各種分析結(jié)果,所有人都可以無障礙地使用這款儀器。(2)Aeris還具有擁有成本低的優(yōu)點(diǎn)-它僅需要一個(gè)單相電源插口,既不需要冷卻水,也不需要壓縮空氣。(3)Aeris還具備帕納科設(shè)備所含的多種成熟技術(shù)...