熒光x射線分析中的兩大誤區(qū)

誤區(qū)1：標樣制備太麻煩，用無標樣法

       熒光x射線分析事實上是一種對比分析，特別是經(jīng)驗系數(shù)法，測得的X射線強度與相應元素濃度的對應關系*是建立在標準樣品的基礎之上的，必須制備足夠數(shù)量的標準樣品，標樣的質(zhì)量直接決定了分析結(jié)果的可靠性?；緟?shù)法等無標樣分析法一般是用于*未知樣品的初步分析的，所謂無標樣也只是不需要系列標準樣而已。

誤區(qū)2：標準樣品可以購買別人的

      由于每個用戶的原料情況、配比是各不相同的，而對于X熒光分析而言，標樣與被測未知樣越相似，測定結(jié)果越好，因此，為了取得好的分析結(jié)果，各用戶應自己配制標樣。標樣的配置應注意幾個問題：

a、必須主要用生產(chǎn)用原料配制，個別少量組份可用化學試劑;

b、標樣數(shù)目應大于被分析元素個數(shù)(至少多兩個);

c、標樣中被測元素的含量范圍應*覆蓋未知樣品相應元素的濃度變化范圍;

d、標樣中各被測元素的濃度之間不應存在相關性。